1. روشنی کے مختلف ذرائع
خوردبین میں الیومینیشن کا ذریعہ الیکٹران گن سے خارج ہونے والا الیکٹران کا بہاؤ ہے، اور آپٹیکل مائکروسکوپ کی روشنی کا ذریعہ نظر آنے والی روشنی (سورج کی روشنی یا روشنی) ہے۔ چونکہ ذیلی بہاؤ کی طول موج روشنی کی لہر کی طول موج سے بہت کم ہوتی ہے، اس لیے الیکٹران مائکروسکوپ کی میگنیفیکیشن اور ریزولیوشن روشنی کے آئینے کی نسبت نمایاں طور پر زیادہ ہے۔ .
2. مختلف لینز
معروضی لینس جو الیکٹران مائیکروسکوپ میں بڑا کرتا ہے ایک برقی مقناطیسی لینس ہے (ایک انگوٹھی کی شکل کا برقی مقناطیسی کنڈلی جو مرکز میں مقناطیسی میدان پیدا کر سکتی ہے)، اور آپٹیکل مائکروسکوپ کا معروضی لینس شیشے سے بنا ایک آپٹیکل لینس ہے۔ الیکٹران خوردبین میں برقی مقناطیسی لینز کے تین گروپ ہوتے ہیں، جو آپٹیکل خوردبین میں کنڈینسر آبجیکٹو اور آئی پیس کے افعال کے برابر ہوتے ہیں۔
3. امیجنگ کے مختلف اصول
الیکٹران خوردبین میں، معائنہ کیے جانے والے نمونے پر کام کرنے والے الیکٹران بیم کو برقی مقناطیسی لینس کے ذریعے بڑھایا جاتا ہے اور پھر امیجنگ کے لیے فلوروسینٹ اسکرین سے ٹکرایا جاتا ہے یا امیجنگ کے لیے فوٹو حساس فلم پر کام کرتا ہے۔ الیکٹران کی کثافت میں فرق کا طریقہ کار یہ ہے کہ جب الیکٹران کی شعاع جانچنے کے لیے نمونے پر کام کرتی ہے، تو واقعہ الیکٹران مادے کے ایٹموں سے ٹکرا کر بکھرنے کو پیدا کرتے ہیں، اور نمونے کے مختلف حصوں میں الیکٹران کے لیے مختلف بکھرنے کی ڈگریاں ہوتی ہیں، لہذا نمونے کی الیکٹران تصویر کو رنگوں میں پیش کیا جاتا ہے۔ آپٹیکل مائیکروسکوپ میں نمونے کی آبجیکٹ امیج کو چمک میں فرق کے ساتھ پیش کیا جاتا ہے، جو نمونے کے مختلف ڈھانچے کے ذریعے جذب ہونے والی روشنی کی مقدار میں فرق کی وجہ سے ہوتا ہے۔
4. قرارداد
روشنی کی مداخلت اور پھیلاؤ کی وجہ سے، آپٹیکل خوردبین کی ریزولیوشن صرف 02-05um تک محدود ہو سکتی ہے۔ چونکہ الیکٹران خوردبین الیکٹران بیم کو روشنی کے ذرائع کے طور پر استعمال کرتی ہیں، ناکامی کی شرح 1 اور 3 nm کے درمیان پہنچ سکتی ہے۔ لہذا، آپٹیکل خوردبینوں کے ٹشو مشاہدے کا تعلق مائکرون سطح کے تجزیے سے ہے، اور الیکٹران خوردبین کے ٹشو کا مشاہدہ نینو سطح کے تجزیہ سے تعلق رکھتا ہے۔
5. فیلڈ کی گہرائی
عام طور پر، آپٹیکل مائکروسکوپ کے فیلڈ کی گہرائی 2-3um کے درمیان ہوتی ہے، اس لیے نمونے کی سطح کی ہمواری انتہائی ضروری ہے، اس لیے نمونے کی تیاری کا عمل نسبتاً پیچیدہ ہے۔ SEM کی روح کئی میٹر تک اونچی ہو سکتی ہے، اس لیے نمونے کی سطح کی جیومیٹری کی ہمواری کی کوئی ضرورت نہیں ہے، نمونے کی تیاری نسبتاً آسان ہے، اور کچھ نمونے کے جیومیٹری کے لیے نمونے کی تیاری کی ضرورت نہیں ہے۔ سٹیریو خوردبین میں فیلڈ کی نسبتاً بڑی گہرائی ہوتی ہے، لیکن ان کی ریزولیوشن بہت کم ہوتی ہے۔
6. نمونے کی تیاری کے مختلف طریقے استعمال کیے جاتے ہیں۔
سب مائیکروسکوپک مشاہدے کے لیے استعمال ہونے والے ٹشو اور سیل کے نمونوں کی تیاری کا طریقہ کار پیچیدہ ہے، جس میں اعلی تکنیکی دشواری اور لاگت آتی ہے۔ نمونے لینے، طے کرنے، پانی کی کمی اور سرایت کرنے کے مراحل میں خصوصی ریجنٹس اور آپریشنز کی ضرورت ہوتی ہے۔ آخر میں، ایمبیڈڈ ٹشو بلاکس کو الٹرا مائیکروٹوم میں ڈالنے کی ضرورت ہے تاکہ 50 ~ 100nm کی موٹائی کے ساتھ انتہائی پتلی نمونوں میں کاٹ سکیں۔ ہلکی مائکروسکوپی کے ذریعے مشاہدہ کیے گئے نمونوں کو عام طور پر شیشے کی سلائیڈوں پر رکھا جاتا ہے، جیسے عام ٹشو سلائس کے نمونے، سیل سمیر کے نمونے، ٹشو دبائے ہوئے نمونے اور سیل ڈراپ کے نمونے۔
7. میگنیفیکیشن
آپٹیکل مائکروسکوپ کی موثر میگنیفیکیشن 1000X ہے۔ ایک اچھے برقی خوردبین کی موثر میگنیفیکیشن 1000,000X تک پہنچ سکتی ہے۔
