الیکٹران مائکروسکوپس بمقابلہ آپٹیکل مائکروسکوپ کے فوائد
الیکٹران مائکروسکوپ الیکٹران آپٹکس کے اصول پر مبنی ایک آلہ ہے ، جو بہت زیادہ اضافہ پر مادے کے عمدہ ڈھانچے کی تصویر بنانے کے لئے بیم اور آپٹیکل لینس کی بجائے الیکٹران بیم اور الیکٹران لینس کا استعمال کرتا ہے۔
الیکٹران مائکروسکوپ کی قرارداد کی نمائندگی ملحقہ پوائنٹس کے درمیان چھوٹے فاصلے سے کی جاتی ہے جس میں اس کی تمیز ہوسکتی ہے۔ 197 0 s میں ، ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ کی قرارداد تقریبا 0. 3 نینو میٹر (انسانی آنکھ کی قرارداد تقریبا 0.1 ملی میٹر ہے)۔ آج کل ، الیکٹران مائکروسکوپز میں 3 لاکھ سے زیادہ مرتبہ اضافہ ہوتا ہے ، جبکہ آپٹیکل مائکروسکوپز میں تقریبا 2000 بار کی اضافہ ہوتا ہے ، لہذا یہ ممکن ہے کہ کچھ بھاری دھاتوں کے ایٹموں اور الیکٹران مائکروسکوپ کے ذریعہ کرسٹل میں صاف ستھرا جوہری جالیوں کا براہ راست مشاہدہ کیا جائے۔
1931 میں ، جرمنی سے تعلق رکھنے والے نور اور روسکا نے ایک سرد کیتھوڈ ڈسچارج الیکٹران ماخذ اور تین الیکٹران لینسوں کے ساتھ ایک اعلی وولٹیج آسکیلوسکوپ میں ترمیم کی ، اور میگنیفیکیشن امیجنگ کے لئے الیکٹران مائکروسکوپی کے امکان کی تصدیق کرتے ہوئے دس بار سے زیادہ تصاویر حاصل کی۔ 1932 میں ، روسکا کی بہتری کے ساتھ ، الیکٹران مائکروسکوپوں کی قرارداد 50 نینو میٹر تک پہنچ گئی ، جو اس وقت آپٹیکل مائکروسکوپوں کی قرارداد کے مطابق دس گنا زیادہ تھی۔ لہذا ، الیکٹران مائکروسکوپوں نے لوگوں سے توجہ حاصل کرنا شروع کردی۔
194 0 s میں ، ریاستہائے متحدہ میں ہل نے الیکٹران لینسوں کی گھماؤ تضاد کی تلافی کے لئے ایک ڈیفگر کا استعمال کیا ، جس کی وجہ سے الیکٹران مائکروسکوپ کی قرارداد میں ایک نئی پیشرفت ہوئی اور آہستہ آہستہ جدید سطح تک پہنچ گیا۔ چین میں ، 1958 میں 3 نینو میٹر کی قرارداد کے ساتھ ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ کامیابی کے ساتھ تیار کیا گیا تھا ، اور 1979 میں 0.3 نینو میٹر کی قرارداد کے ساتھ ایک بڑے الیکٹران مائکروسکوپ تیار کیا گیا تھا۔
اگرچہ الیکٹران مائکروسکوپوں کی قرارداد آپٹیکل مائکروسکوپوں سے کہیں زیادہ ہے ، لیکن خلا کے حالات میں کام کرنے کی ضرورت کی وجہ سے ان کو زندہ حیاتیات کا مشاہدہ کرنا مشکل ہے ، اور الیکٹران بیموں کی شعاع ریزی بھی حیاتیاتی نمونوں کو تابکاری کو پہنچنے والے نقصان کا سبب بن سکتی ہے۔ دوسرے امور ، جیسے الیکٹران گن کی چمک اور الیکٹران لینس کے معیار کو بہتر بنانا ، کو بھی مزید تحقیق کی ضرورت ہے۔
قرارداد الیکٹران مائکروسکوپی کا ایک اہم اشارے ہے ، جو نمونے سے گزرنے والے الیکٹران بیم کی واقعہ شنک زاویہ اور طول موج سے متعلق ہے۔ مرئی روشنی کی طول موج تقریبا {{0}} نینو میٹر کے بارے میں ہے ، جبکہ الیکٹران بیم کی طول موج ایکسلریشن وولٹیج سے متعلق ہے۔ جب ایکسلریشن وولٹیج 50-100 KV کے درمیان ہوتا ہے تو ، الیکٹران بیم کی طول موج تقریبا 0 ہوتی ہے۔ 0053-0. 0037 ینیم۔ اس حقیقت کی وجہ سے کہ الیکٹران بیم کی طول موج نظر آنے والی روشنی سے کہیں زیادہ چھوٹی ہے ، یہاں تک کہ اگر الیکٹران بیم کا شنک زاویہ آپٹیکل مائکروسکوپ کا صرف 1 ٪ ہے تو ، الیکٹران مائکروسکوپ کی ریزولوشن آپٹیکل مائکروسکوپ سے کہیں زیادہ اعلی ہے۔
ایک الیکٹران مائکروسکوپ تین حصوں پر مشتمل ہے: ایک ٹیوب ، ایک ویکیوم سسٹم ، اور بجلی کی کابینہ۔ لینس بیرل کے اہم اجزاء میں ایک الیکٹران گن ، ایک الیکٹران لینس ، ایک نمونہ ہولڈر ، فلوروسینٹ اسکرین ، اور کیمرہ میکانزم شامل ہیں ، جو عام طور پر اوپر سے نیچے تک بیلناکار جسم میں جمع ہوتے ہیں۔ ویکیوم سسٹم میں مکینیکل ویکیوم پمپ ، ایک بازی پمپ ، اور ویکیوم والو شامل ہوتا ہے ، اور یہ راستہ پائپ لائن کے ذریعے سلنڈر سے منسلک ہوتا ہے۔ بجلی کی کابینہ ایک اعلی وولٹیج جنریٹر ، ایک جوش و خروش موجودہ اسٹیبلائزر ، اور مختلف ریگولیٹنگ اور کنٹرول یونٹوں پر مشتمل ہے۔
