مادے کے ساتھ الیکٹران کا تعامل الیکٹران خوردبین کی پیداوار کو اسکین کرنے کی بنیاد ہے۔ ثانوی الیکٹران، اوجر الیکٹران، خصوصیت والی ایکس رے اور کنٹینیوم ایکس رے، بیک بکھرے ہوئے الیکٹران، ٹرانسمیٹڈ الیکٹران، اور برقی مقناطیسی تابکاری مرئی، الٹرا وایلیٹ اور انفراریڈ رینجز میں اس وقت پیدا ہوتی ہے جب ہائی انرجی کے واقعے الیکٹرانوں کا ایک شہتیر اس کی سطح پر بمباری کرتا ہے۔ معاملہ. جعلی وائبریشنز (فونونز)، الیکٹران دولن (پلازماس)، اور الیکٹران ہول کے جوڑے ایک ہی وقت میں پیدا کیے جا سکتے ہیں۔ نظریہ میں، خود نمونہ کی کئی جسمانی اور کیمیائی خصوصیات، بشمول اس کی شکل، ساخت، کرسٹل ڈھانچہ، الیکٹرانک ڈھانچہ، اور اندرونی برقی یا مقناطیسی فیلڈز، کا تعین الیکٹران اور مادے کے درمیان تعامل کے ذریعے کیا جا سکتا ہے۔
نمونے کی سطح پر مخصوص توانائی، شدت اور جگہ کے قطر کے ساتھ ایک الیکٹران بیم بنانے کے لیے، الیکٹران کینن 30 keV تک کی توانائی کے ساتھ ایک الیکٹران بیم خارج کرتی ہے، جسے پھر کنورجنگ لینس اور معروضی لینس کے ذریعے کم کر کے فوکس کیا جاتا ہے۔ . واقعہ الیکٹران بیم وقت اور جگہ کی ایک مخصوص مقدار میں اسکیننگ کوائل کے مقناطیسی میدان کے زیر اثر نمونے کی سطح کو پوائنٹ بہ پوائنٹ اسکین کرے گا۔ ثانوی الیکٹران نمونے کی سطح کے ساتھ الیکٹران کے رابطے کے واقعے کے نتیجے میں نمونہ الیکٹرانک سے پرجوش ہیں۔ سیکنڈری الیکٹران کلیکٹر کا فنکشن اسے ثانوی الیکٹرانوں کو پکڑنے کی اجازت دیتا ہے جو تمام سمتوں میں خارج ہوتے ہیں۔
اور پھر آپٹیکل سگنل کی ایک اور تبدیلی سے گزرنے کے لیے لائٹ پائپ کو فوٹو ملٹیپلیئر ٹیوب تک جانے سے پہلے، ایک آپٹیکل سگنل میں تبدیل کرنے کے لیے ایکسلریٹنگ الیکٹروڈ کے ذریعے سکینٹلیٹر کی طرف بڑھایا جاتا ہے۔ برقی سگنل منتقل کرنے کے لیے۔ ویڈیو ایمپلیفائر اس برقی سگنل کو بڑھاتا ہے، جو پھر اس کی چمک کو منظم کرنے اور فلوروسینٹ اسکرین پر نمونے کی سطح کے اتار چڑھاؤ کی عکاسی کرنے والے سیکنڈری الیکٹران امیج کو ظاہر کرنے کے لیے پکچر ٹیوب کے گرڈ کو فراہم کیا جاتا ہے۔
TEM امیجنگ میں استعمال ہونے والا امیجنگ کا عمل، جو مقناطیسی لینس امیجنگ کا استعمال کرتا ہے اور ایک ہی وقت میں مکمل ہو جاتا ہے، بالکل مختلف ہے۔
الیکٹران آپٹیکل سسٹم، سکیننگ سسٹم، سگنل ڈٹیکشن سسٹم، ڈسپلے سسٹم، پاور سپلائی، اور ویکیوم سسٹم اسکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ کی اکثریت پر مشتمل ہے۔ گرافک اس کی تعمیر کی منصوبہ بندی کی نمائندگی کرتا ہے۔ چپکنے والی جانچ میں، سکیننگ الیکٹران مائکروسکوپی کو اکثر استعمال کیا جاتا ہے۔
