گنجائش کی پیمائش کے لیے ملٹی میٹر کا استعمال درج ذیل طریقوں سے کیا جا سکتا ہے۔
1. کیپسیٹر موڈ کے ساتھ براہ راست پتہ لگانا
کچھ ڈیجیٹل ملٹی میٹرز کیپیسیٹینس کی پیمائش کا کام ہوتا ہے، اور ان کی رینجز کو پانچ درجوں میں تقسیم کیا جاتا ہے: 2000p، 20n، 200n، 2 μ، اور 20 μ۔ پیمائش کرتے وقت، ڈسچارجڈ کیپسیٹر کے دو پنوں کو براہ راست میٹر بورڈ پر Cx ساکٹ میں داخل کیا جا سکتا ہے، اور ڈسپلے ڈیٹا کو مناسب رینج منتخب کرنے کے بعد پڑھا جا سکتا ہے۔
000p رینج، 2000pF سے کم کیپسیٹرز کی پیمائش کے لیے موزوں؛ 20n رینج، 2000pF اور 20nF کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لیے موزوں؛ 200n رینج، 20nF اور 200nF کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لیے موزوں؛ 2 μ سطح، 200nF اور 2 μF کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لیے موزوں؛ 20 μF 2 μF اور 20 μF کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لیے موزوں ہے۔
تجربے سے پتہ چلتا ہے کہ ڈیجیٹل ملٹی میٹرز کے کچھ ماڈلز (جیسے DT890B+) میں 50pF سے کم صلاحیت والے کیپسیٹرز کی پیمائش کرتے وقت اہم غلطیاں ہوتی ہیں، اور 20pF سے نیچے کیپسیٹرز کی پیمائش کرنے میں تقریباً کوئی حوالہ قیمت نہیں ہوتی ہے۔ اس مقام پر، سیریز کا طریقہ چھوٹے اہلیت کی قدروں کی پیمائش کے لیے استعمال کیا جا سکتا ہے۔ طریقہ یہ ہے کہ پہلے تقریباً 220pF کی گنجائش والا کپیسیٹر تلاش کریں، اس کی اصل صلاحیت C1 کو ڈیجیٹل ملٹی میٹر سے ناپیں، اور پھر چھوٹے کیپسیٹر کو اس کے ساتھ ملا کر اس کی کل صلاحیت C2 کی پیمائش کریں۔ دونوں کے درمیان فرق (C1-C2) چھوٹے کیپسیٹر کی جانچ کرنے کی صلاحیت ہے۔ یہ طریقہ 1-20pF کی چھوٹی گنجائش کی پیمائش کے لیے بہت درست ہے۔
2. مزاحمتی موڈ سے پتہ لگائیں۔
پریکٹس نے ثابت کیا ہے کہ کیپسیٹرز کے چارج کرنے کے عمل کو ڈیجیٹل ملٹی میٹر کا استعمال کرتے ہوئے بھی دیکھا جا سکتا ہے، جو دراصل مجرد ڈیجیٹل مقداروں میں چارجنگ وولٹیج میں ہونے والی تبدیلیوں کی عکاسی کرتا ہے۔ اگر ڈیجیٹل ملٹی میٹر کی پیمائش کی شرح n بار فی سیکنڈ ہے، تو ایک کپیسیٹر کی چارجنگ کے مشاہدے کے عمل کے دوران، ہر سیکنڈ میں n آزاد اور ترتیب وار بڑھتی ہوئی ریڈنگ دیکھی جا سکتی ہے۔ ڈیجیٹل ملٹی میٹر کے ڈسپلے فیچر کی بنیاد پر، کیپسیٹرز کے معیار کا پتہ لگانا اور ان کی گنجائش کے سائز کا اندازہ لگانا ممکن ہے۔ ریزسٹنس رینج میں کیپسیٹرز کا پتہ لگانے کے لیے ڈیجیٹل ملٹی میٹر استعمال کرنے کا طریقہ درج ذیل ہے، جو ان آلات کے لیے عملی اہمیت کا حامل ہے جنہوں نے گنجائش کی حد متعین نہیں کی ہے۔ یہ طریقہ 0.1 μF سے لے کر کئی ہزار مائیکروفراڈ تک بڑی صلاحیت والے کیپسیٹرز کی پیمائش کے لیے موزوں ہے۔
ڈیجیٹل ملٹی میٹر کو مناسب مزاحمتی رینج پر سیٹ کریں، بالترتیب سرخ اور سیاہ پروبس ٹیسٹ شدہ کپیسیٹر Cx کے دو کھمبوں کو چھوتے ہیں۔ اس مقام پر، ظاہر شدہ قدر آہستہ آہستہ "000" سے بڑھے گی جب تک کہ اوور فلو علامت "1" ظاہر نہ ہو۔ اگر "000" مسلسل ظاہر ہوتا ہے، تو یہ کیپسیٹر میں اندرونی شارٹ سرکٹ کی نشاندہی کرتا ہے۔ اگر اوور فلو مستقل طور پر ظاہر ہوتا ہے، تو یہ کیپسیٹر کے اندرونی کھمبوں کے درمیان کھلے سرکٹ کی وجہ سے ہو سکتا ہے، یا یہ ایک نامناسب مزاحمتی سطح منتخب ہونے کی وجہ سے ہو سکتا ہے۔ الیکٹرولائٹک کیپسیٹرز کو چیک کرتے وقت، یہ نوٹ کرنا ضروری ہے کہ ریڈ پروب (مثبت چارج شدہ) کو کپیسیٹر کے مثبت ٹرمینل سے منسلک کیا جانا چاہیے، اور بلیک پروب کو کپیسیٹر کے منفی ٹرمینل سے منسلک ہونا چاہیے۔
