ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ کام کرنے کا اصول اور استعمال
ٹرانسمیشن الیکٹران مائیکروسکوپ (TEM)، آپٹیکل مائیکروسکوپ میں دیکھ سکتا ہے {{0}}.2 um سے کم ٹھیک ساخت نہیں دیکھ سکتا، ان ڈھانچے کو ذیلی مائکروسکوپک ڈھانچہ یا الٹرا مائیکرو اسٹرکچر کہا جاتا ہے۔ ان ڈھانچے کو دیکھنے کے لیے، خوردبین کی ریزولوشن کو بہتر بنانے کے لیے روشنی کے منبع کی ایک چھوٹی طول موج کا انتخاب کرنا ضروری ہے۔ 1932 روسکا نے الیکٹران بیم کو ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ کے روشنی کے منبع کے طور پر ایجاد کیا، الیکٹران بیم کی طول موج نظر آنے والی روشنی اور بالائے بنفشی روشنی کی طول موج سے بہت کم ہے، اور الیکٹران بیم کی طول موج اور الیکٹران بیم کے اخراج سے بہت کم ہے۔ وولٹیج کا مربع جڑ اس کے الٹا متناسب ہے کہ یہ کہنا ہے کہ چھوٹے کی طول موج کا وولٹیج جتنا زیادہ ہوگا۔ فی الحال TEM کی حل کرنے کی طاقت 0.2nm تک ہے۔
ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ ورکنگ اصول الیکٹران گن کے ذریعہ خارج ہونے والا الیکٹران بیم ہے، ویکیوم چینل میں کنڈینسر آئینے کے ذریعے آئینے کے جسم کے نظری محور کے ساتھ، کنڈینسر آئینے کے ذریعے تیز، روشن اور یکساں جگہ کی بیم میں تبدیل ہو جائے گا، نمونوں پر نمونے کے چیمبر میں نمونوں کی شعاع ریزی؛ اندرونی ساختی معلومات کے ساتھ نمونے لے جانے والے الیکٹرانوں کے بیم کے بعد نمونوں کے ذریعے، الیکٹرانوں کی مقدار کے ذریعے گھنے میں نمونے چھوٹے ہوتے ہیں، اسپرسر کے ذریعے منتقل ہونے والے الیکٹرانوں کی مقدار زیادہ الیکٹرانوں کو رکھتی ہے۔ آبجیکٹیو لینس فوکس کرنے کے بعد اور مقصدی لینس کنورجنس فوکسنگ اور پرائمری میگنیفیکیشن کے بعد، الیکٹران بیم کو انٹرمیڈیٹ لینس کے نچلے درجے میں اور انٹیگریٹڈ میگنیفیکیشن امیجنگ کے لیے پہلا، دوسرا پروجیکشن آئینہ، اور آخر کار وسیع الیکٹرونک امیج پر متوقع فلوروسینٹ اسکرین بورڈ کا مشاہدہ کمرہ؛ فلوروسینٹ اسکرین کو صارف کے مشاہدے کے لیے الیکٹرانک امیج کی مرئی تصویر میں تبدیل کر دیا جائے گا۔ اس حصے میں، ہر نظام کے بنیادی ڈھانچے اور اصول بیان کیے گئے ہیں۔
ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ کے امیجنگ اصول کو تین صورتوں میں تقسیم کیا جا سکتا ہے:
1. جذب جیسے: جب الیکٹران بڑے پیمانے پر، نمونے کی کثافت پر گولی مارتا ہے، تو اہم مرحلے کی تشکیل کا اثر بکھرنے والا اثر ہوتا ہے۔ الیکٹران کے بکھرنے والے زاویہ پر جگہ کی بڑے پیمانے پر موٹائی پر نمونہ بڑا ہے، الیکٹران کے ذریعے کم ہے، سیاہ کی چمک کی طرح. ابتدائی ٹرانسمیشن الیکٹران خوردبینیں اس اصول پر مبنی تھیں۔
2. ڈفریکشن امیج: الیکٹران بیم کے نمونے کے ذریعے الگ ہونے کے بعد، نمونے کی مختلف پوزیشنوں پر پھیلاؤ کی لہر کی طول و عرض کی تقسیم نمونے میں موجود کرسٹل کے ہر حصے کی مختلف تفریق صلاحیت کے مساوی ہے۔ جب کرسٹل کی خرابی ہوتی ہے تو، عیب دار حصے کی تفریق کی صلاحیت برقرار علاقے سے مختلف ہوتی ہے، اس طرح پھیلاؤ لہر کی طول و عرض کی تقسیم کو ناہموار بناتا ہے اور کرسٹل کی خرابی کی تقسیم کو ظاہر کرتا ہے۔
3. فیز امیج: جب نمونہ 100Å یا اس سے کم پتلا ہوتا ہے، تو الیکٹران نمونے سے گزر سکتے ہیں، اور لہر کے طول و عرض کی تبدیلی کو نظر انداز کیا جا سکتا ہے، اور امیجنگ مرحلے کی تبدیلی سے آتی ہے۔
