الیکٹران خوردبین کا استعمال
الیکٹران خوردبین کو ان کی ساخت اور استعمال کے مطابق ٹرانسمیشن الیکٹران خوردبین، اسکیننگ الیکٹران خوردبین، عکاسی الیکٹران خوردبین، اور اخراج الیکٹران خوردبین میں تقسیم کیا جاسکتا ہے۔ ٹرانسمیشن الیکٹران خوردبین اکثر باریک مادی ڈھانچے کا مشاہدہ کرنے کے لیے استعمال ہوتی ہیں جنہیں عام خوردبین سے حل نہیں کیا جا سکتا۔ اسکیننگ الیکٹران خوردبین بنیادی طور پر ٹھوس سطحوں کی شکل کا مشاہدہ کرنے کے لیے استعمال ہوتی ہیں، اور اسے ایکس رے ڈفریکٹومیٹرس یا الیکٹران انرجی اسپیکٹومیٹرز کے ساتھ ملا کر الیکٹرونک بھی بنایا جا سکتا ہے۔ نمونے کے پتلے یا کم کثافت والے حصے میں کم الیکٹران بیم بکھرتے ہیں، تاکہ زیادہ الیکٹران معروضی ڈایافرام سے گزرتے ہیں اور امیجنگ میں حصہ لیتے ہیں، اور تصویر میں زیادہ روشن دکھائی دیتے ہیں۔ اس کے برعکس، تصویر میں نمونے کے موٹے یا گھنے حصے گہرے دکھائی دیتے ہیں۔ اگر نمونہ بہت موٹا یا بہت گھنا ہے تو، تصویر کا کنٹراسٹ خراب ہو جائے گا، یا الیکٹران بیم کی توانائی کو جذب کر کے نقصان یا تباہ کر دے گا۔
ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ لینس بیرل کا سب سے اوپر ایک الیکٹران گن ہے۔ الیکٹران ٹنگسٹن ہاٹ کیتھوڈ سے خارج ہوتے ہیں، اور الیکٹران بیم پہلے اور دوسرے کنڈینسر کے ذریعے مرکوز ہوتے ہیں۔ نمونے سے گزرنے کے بعد، الیکٹران بیم کو معروضی عینک کے ذریعے انٹرمیڈیٹ آئینے پر امیج کیا جاتا ہے، اور پھر انٹرمیڈیٹ آئینے اور پروجیکشن آئینے کے ذریعے قدم بہ قدم بڑھایا جاتا ہے، اور پھر فلوروسینٹ اسکرین یا فوٹو کوہیرنٹ پلیٹ پر امیج کیا جاتا ہے۔
انٹرمیڈیٹ آئینے کی میگنیفیکیشن کو مسلسل دسیوں بار سے سینکڑوں ہزار بار تک تبدیل کیا جا سکتا ہے بنیادی طور پر جوش کرنٹ کی ایڈجسٹمنٹ کے ذریعے۔ انٹرمیڈیٹ آئینے کی فوکل لینتھ کو تبدیل کرکے، ایک ہی نمونے کے چھوٹے حصوں پر الیکٹران مائکروسکوپک امیجز اور الیکٹران ڈفریکشن امیجز حاصل کیے جاسکتے ہیں۔ موٹے دھاتی ٹکڑوں کے نمونوں کا مطالعہ کرنے کے لیے، فرانسیسی ڈولوس الیکٹران آپٹکس لیبارٹری نے 3500 kV کی تیز رفتار وولٹیج کے ساتھ الٹرا ہائی وولٹیج الیکٹران مائکروسکوپ تیار کیا۔
اسکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ کا الیکٹران بیم نمونے سے نہیں گزرتا، بلکہ صرف نمونے کی سطح پر موجود سیکنڈری الیکٹرانوں کو اسکین اور پرجوش کرتا ہے۔ نمونے کے ساتھ لگا ہوا سکینٹیلیشن کرسٹل یہ ثانوی الیکٹران حاصل کرتا ہے، پکچر ٹیوب کے الیکٹران بیم کی شدت کو بڑھاتا اور ماڈیول کرتا ہے، اس طرح پکچر ٹیوب کی سکرین پر چمک بدل جاتی ہے۔ پکچر ٹیوب کا ڈیفلیکشن کنڈلی نمونے کی سطح پر الیکٹران بیم کے ساتھ ہم وقت ساز اسکیننگ کرتی رہتی ہے، تاکہ پکچر ٹیوب کی فلوروسینٹ اسکرین نمونے کی سطح کی ٹپوگرافک امیج دکھاتی ہے، جو کہ صنعتی ٹی وی کے کام کرنے والے اصول کی طرح ہے۔ .
اسکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ کی ریزولوشن بنیادی طور پر نمونے کی سطح پر الیکٹران بیم کے قطر سے طے کی جاتی ہے۔ میگنیفیکیشن تصویری ٹیوب پر سکیننگ کے طول و عرض کا نمونہ پر سکیننگ طول و عرض کا تناسب ہے، جسے دسیوں بار سے سینکڑوں ہزار بار تک مسلسل تبدیل کیا جا سکتا ہے۔ الیکٹران مائکروسکوپی کو اسکین کرنے کے لیے بہت پتلے نمونوں کی ضرورت نہیں ہوتی ہے۔ تصویر میں ایک مضبوط تین جہتی اثر ہے؛ یہ مادوں کی ساخت کا تجزیہ کرنے کے لیے ثانوی الیکٹران، جذب شدہ الیکٹران، اور الیکٹران بیم اور مادوں کے تعامل سے پیدا ہونے والی ایکس رے جیسی معلومات کا استعمال کر سکتا ہے۔
سکیننگ الیکٹران مائیکروسکوپ کی الیکٹران گن اور کنڈینسر لینس تقریباً ٹرانسمیشن الیکٹران مائیکروسکوپ کی طرح ہی ہیں، لیکن الیکٹران بیم کو پتلا بنانے کے لیے، کنڈینسر لینس کے نیچے ایک معروضی لینس اور ایک astigmatizer شامل کیا جاتا ہے، اور اس کے دو سیٹ مقصدی لینس کے اندر باہمی طور پر کھڑے سکیننگ بیم نصب کیے جاتے ہیں۔ کنڈلی معروضی لینس کے نیچے نمونہ کا چیمبر ایک نمونے کے مرحلے سے لیس ہے جو حرکت، گھومنے اور جھک سکتا ہے۔
