میٹالوگرافک مائکروسکوپ کی اہم خصوصیات کیا ہیں؟
1. میٹالوگرافک مائکروسکوپ خاص طور پر دھاتوں اور صنعتی مواد کے معائنے میں تمام معائنہ اور پیمائش کے کاموں کے لیے ڈیزائن کیا گیا ہے۔
2. بنیادی طور پر میٹالوگرافک نمونوں کی معمول کی کھوج اور تجزیہ کو پورا کرنے کے لیے عکاسی کے مشاہدے کی ترتیب فراہم کرنا۔
3. مجموعی نظری راستہ 20 ملی میٹر کے ویو قطر کے فیلڈ کو سپورٹ کرتا ہے۔
4. چار سوراخ دستی مقصد turntable.
5. بلٹ میں 35W ہالوجن لیمپ یا بیرونی 100W ٹرانسفارمر کے ساتھ ہالوجن لائٹنگ فراہم کریں۔
6. روشن میدان اور پولرائزڈ روشنی کے مشاہدے کے طریقے فراہم کر سکتے ہیں۔
7. مختلف ملٹیلز کے لائیکا کے معروضی لینز کے ساتھ جوڑا بنایا جا سکتا ہے۔ ایک مقررہ نمونہ مرحلے یا تین بورڈ موبائل نمونہ مرحلے کے ساتھ لیس کیا جا سکتا ہے. میٹالوگرافک مائیکروسکوپ کو کیمروں، ڈیجیٹل کیمروں، اور تصویر کے حصول کے لیے دیگر آلات سے لیس کیا جا سکتا ہے، اور اسے تصویری تجزیہ کے لیے تجزیہ سافٹ ویئر کے ساتھ مل کر استعمال کیا جا سکتا ہے۔
میٹالوگرافک مائیکروسکوپ، اپنے مکمل طور پر خودکار ڈیفرینسئل انٹرفیس فیز کنٹراسٹ (DIC) اور 1.25x مکمل فیلڈ آئینے کے ساتھ، چھوٹی چھوٹی تفصیلات کا بھی پتہ لگا سکتا ہے۔ الٹرا ڈیپ فیلڈ ہائی ڈیفینیشن امیج چھوٹی تفصیلات کے واضح نظارے کی اجازت دیتی ہے، پتہ لگانے کے لیے اعلیٰ معیار کی تصویر کی ضروریات کو پورا کرتی ہے۔
الیکٹران مائیکروسکوپی کو اسکین کرنا ڈیجیٹل کیمرے کی طرح کام کرنا اتنا ہی آسان ہے، جس میں اعلیٰ ریزولیوشن اور فیلڈ کی گہرائی کو برقرار رکھتے ہوئے بڑی میگنیفیکیشن امیجز آسانی سے حاصل کی جا سکتی ہیں۔ سکیننگ الیکٹران مائیکروسکوپی کی طاقتور الیکٹرانک آپٹیکل خصوصیات کے ساتھ، یہ لائف سائنسز میں تحقیق کو تیز کرنے اور پروسیس شدہ مواد کے خرابی کے تجزیہ میں مدد کرتا ہے۔
یہ آلہ بنیادی پہلوؤں جیسے آٹو فوکس، خودکار کنٹراسٹ ریشو، اور خودکار برائٹنس کنٹرول میں کام کرنا آسان ہے، بغیر کوٹنگ یا خشک کرنے جیسی خصوصی نمونہ پروسیسنگ تیاریوں کی ضرورت کے۔ اس میں ہائی ویکیوم اور لو ویکیوم کے دو آپریٹنگ موڈز ہیں، نیز تین ایکسلریشن وولٹیج سیٹنگز، مختلف ایپلیکیشن فیلڈز کے لیے موزوں ہیں۔ ان سب کو پہلے سے سیٹ حل فائلوں میں پروگرام کیا جا سکتا ہے، ہائی ریزولوشن اور فیلڈ کی بڑی گہرائی کو برقرار رکھتے ہوئے بڑی میگنیفیکیشن امیجز آسانی سے حاصل کی جا سکتی ہیں۔ اس میں الیکٹران مائکروسکوپی کو اسکین کرنے کی طاقتور الیکٹرانک آپٹیکل کارکردگی ہے۔
اسکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ ایک الیکٹران گن سے ایک الیکٹران بیم (تقریبا 50um کے قطر کے ساتھ) خارج کرتی ہے، جو ایک مقناطیسی لینس سسٹم کے ذریعے ایک تیز وولٹیج کے عمل کے تحت 5nm کے قطر کے ساتھ الیکٹران بیم بناتی ہے۔ یہ نمونے کی سطح پر مرکوز ہے، اور دوسرے فوکس کرنے والے لینس اور معروضی لینس کے درمیان ایک انحراف کنڈلی کے عمل کے تحت، الیکٹران بیم نمونے پر اسکین کی طرح ایک جھنڈی سے گزرتا ہے۔ الیکٹران سگنل الیکٹران پیدا کرنے کے لیے نمونے کے ساتھ تعامل کرتے ہیں، جو ڈیٹیکٹر کے ذریعے جمع کیے جاتے ہیں اور فوٹون میں تبدیل ہوتے ہیں۔ اس کے بعد انہیں برقی سگنل یمپلیفائر کے ذریعے بڑھایا جاتا ہے اور ڈسپلے سسٹم پر امیج کیا جاتا ہے۔
اسکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ کی ساخت میں الیکٹران آپٹیکل سسٹم، سگنل کلیکشن، امیج ڈسپلے اور ریکارڈنگ سسٹم اور ویکیوم سسٹم شامل ہوتا ہے۔ یہ حصہ بنیادی طور پر ایک الیکٹران گن، برقی مقناطیسی لینس، سکیننگ کوائل، اور نمونہ چیمبر پر مشتمل ہوتا ہے۔ الیکٹران گن ایک مستحکم الیکٹران ذریعہ فراہم کرتی ہے، ایک الیکٹران بیم بناتی ہے۔ عام طور پر، ایک ٹنگسٹن کیتھوڈ الیکٹران گن کا استعمال کیا جاتا ہے، اور تقریباً 0.1 ملی میٹر کے قطر کے ساتھ ٹنگسٹن تار کو بالوں کے پین کی شکل میں جھکا دیا جاتا ہے، جو تقریباً 100 μm کے رداس کے ساتھ V کی شکل کی نوک بناتا ہے۔ جب فلیمینٹ کرنٹ گزرتا ہے تو فلیمنٹ کو گرم کیا جاتا ہے اور جب یہ آپریٹنگ درجہ حرارت تک پہنچ جاتا ہے تو یہ الیکٹران خارج کرتا ہے۔ کیتھوڈ اور انوڈ کے درمیان ہائی وولٹیج کا اطلاق ہوتا ہے، اور یہ الیکٹران انوڈ کی طرف تیز ہوتے ہیں، ایک الیکٹران بیم بناتے ہیں۔ ہائی وولٹیج الیکٹرک فیلڈ کی کارروائی کے تحت، الیکٹران بیم کو انوڈ ایکسس ہول کے ذریعے تیز کیا جاتا ہے اور برقی مقناطیسی میدان میں داخل ہوتا ہے۔
