الیکٹران مائکروسکوپ کو اسکین کرنے کا اصول کیا ہے؟
اس حقیقت کی وجہ سے کہ ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپی TE امیجنگ کے لیے استعمال ہوتی ہے، اس بات کو یقینی بنانا ضروری ہے کہ نمونے کی موٹائی اس سائز کی حد کے اندر ہو جس میں الیکٹران بیم گھس سکتا ہے۔ اس کو حاصل کرنے کے لیے، بڑے سائز کے نمونوں کو ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپی کے لیے قابل قبول سطح پر تبدیل کرنے کے لیے مختلف بوجھل نمونے کی تیاری کے طریقوں کی ضرورت ہے۔
سائنسدانوں کے ذریعہ حاصل کردہ مقصد خوردبین امیجنگ کے لیے نمونے کی سطح کے مواد کی مادی خصوصیات کو براہ راست استعمال کرنا ہے۔
کوششوں کے ذریعے، یہ خیال ایک حقیقت بن گیا ہے - سکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ (SEM).
SEM - الیکٹران آپٹکس کا آلہ جو مشاہدہ شدہ نمونے کی سطح کو انتہائی پتلی الیکٹران بیم سے اسکین کرتا ہے، الیکٹران بیم اور نمونے کے درمیان تعامل سے پیدا ہونے والی الیکٹرانک معلومات کا ایک سلسلہ جمع کرتا ہے، اور تبادلوں اور پرورش کے بعد کی تصاویر۔ یہ تین جہتی سطح کے ڈھانچے کا مطالعہ کرنے کے لیے ایک فائدہ مند ٹول ہے۔
اس کے کام کرنے کا اصول ہے:
ہائی ویکیوم لینس ٹیوب میں، الیکٹران گن کے ذریعے پیدا ہونے والی الیکٹران بیم کو الیکٹران کنورجنس لینس کے ذریعے ایک باریک بیم میں مرکوز کیا جاتا ہے، اور پھر برقی معلومات کی ایک سیریز پیدا کرنے کے لیے نمونے کی سطح کے پوائنٹ کو اسکین اور بمباری کرتا ہے (ثانوی الیکٹران، بیک عکاسی الیکٹران، ٹرانسمیشن الیکٹران، جذب الیکٹران، وغیرہ)۔ ڈٹیکٹر مختلف الیکٹرانک سگنلز وصول کرتا ہے، انہیں الیکٹرانک ایمپلیفائر کے ذریعے بڑھاتا ہے، اور پھر انہیں پکچر ٹیوب گرڈ کے ذریعے کنٹرول ہونے والی پکچر ٹیوب میں داخل کرتا ہے۔
فوکسڈ الیکٹران بیم کے ساتھ نمونے کی سطح کو اسکین کرتے وقت، مختلف طبعی اور کیمیائی خصوصیات، سطح کی صلاحیت، عنصری ساخت، اور نمونے کے مختلف حصوں پر سطح کی مقعد محدب مورفولوجی کی وجہ سے، الیکٹران بیم سے پرجوش ہونے والی الیکٹرانک معلومات۔ مختلف ہے، جس کے نتیجے میں امیجنگ ٹیوب کے الیکٹران بیم کی شدت میں مسلسل تبدیلی آتی ہے۔ آخر میں، امیجنگ ٹیوب کی فلوروسینٹ اسکرین پر نمونے کی سطح کی ساخت کے مطابق ایک تصویر حاصل کی جا سکتی ہے۔ ڈیٹیکٹر کو موصول ہونے والے مختلف الیکٹرانک سگنلز کے مطابق، بیک سکیٹرڈ الیکٹران امیج، سیکنڈری الیکٹران امیج اور امیجز الیکٹران امیج کو بالترتیب حاصل کیا جا سکتا ہے۔
جیسا کہ اوپر بیان کیا گیا ہے، ایک سکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ میں زیادہ تر درج ذیل ماڈیول ہوتے ہیں: الیکٹران آپٹکس سسٹم ماڈیول، ہائی وولٹیج ماڈیول، ویکیوم سسٹم ماڈیول، مائیکرو سگنل کا پتہ لگانے والا ماڈیول، کنٹرول ماڈیول، مائیکرو ڈسپلیسمنٹ ٹیبل کنٹرول ماڈیول وغیرہ۔
