ورکنگ اصول اور ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ کا اطلاق
ٹرانسمیشن الیکٹران مائیکروسکوپ (مختصر طور پر ٹی ای ایم) {{0}.2um سے چھوٹے مائیکرو اسٹرکچر کو دیکھ سکتا ہے جو آپٹیکل مائکروسکوپ کے نیچے واضح طور پر نہیں دیکھا جا سکتا۔ ان ڈھانچے کو ذیلی ساخت یا الٹرا سٹرکچر کہا جاتا ہے۔ ان ڈھانچوں کو واضح طور پر دیکھنے کے لیے، مائکروسکوپ کی ریزولیوشن کو بہتر بنانے کے لیے کم طول موج کے ساتھ روشنی کے منبع کا انتخاب کرنا ضروری ہے۔ 1932 میں، روسکا نے روشنی کے منبع کے طور پر الیکٹران بیم کے ساتھ ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ ایجاد کی۔ الیکٹران بیم کی طول موج مرئی روشنی اور بالائے بنفشی روشنی کی نسبت بہت کم ہوتی ہے، اور الیکٹران بیم کی طول موج خارج ہونے والے الیکٹران بیم کے وولٹیج کے مربع جڑ کے الٹا متناسب ہوتی ہے، یعنی یہ کہنا کہ وولٹیج جتنی زیادہ ہوگی طول موج جتنی کم ہوتی ہے۔ فی الحال، TEM کی قرارداد 0.2nm تک پہنچ سکتی ہے۔
ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ کا کام کرنے والا اصول یہ ہے کہ الیکٹران گن سے خارج ہونے والا الیکٹران بیم ویکیوم چینل میں آئینے کے آپٹیکل محور کے ساتھ کنڈینسر لینس سے گزرتا ہے، اور اسے تیز، روشن اور یکساں روشنی کے دھبوں کے ایک گروپ میں تبدیل کرتا ہے۔ کنڈینسر لینس کے ذریعے، نمونے کے چیمبر میں نمونے کو شعاع دیتا ہے۔ اوپر نمونے سے گزرنے کے بعد، الیکٹران بیم نمونے کے اندر ساختی معلومات لے جاتا ہے، نمونے کے گھنے حصے سے گزرنے والے الیکٹرانوں کی مقدار کم ہوتی ہے، اور ویرل حصے سے گزرنے والے الیکٹران کی مقدار زیادہ ہوتی ہے۔ معروضی لینس کے کنورجنس ایڈجسٹمنٹ اور پرائمری ایمپلیفیکیشن کے بعد، الیکٹران بیم انٹرمیڈیٹ لینس نچلے مرحلے میں داخل ہوتا ہے اور پہلا اور دوسرا پروجیکشن آئینے جامع میگنیفیکیشن امیجنگ کرتے ہیں، اور آخر میں میگنیفائیڈ الیکٹرانک امیج کو مشاہدے کے کمرے میں فلوروسینٹ اسکرین پر پیش کیا جاتا ہے۔ ; فلوروسینٹ اسکرین صارفین کے مشاہدے کے لیے الیکٹرانک امیج کو ایک مرئی روشنی والی تصویر میں بدل دیتی ہے۔ یہ حصہ بالترتیب ہر نظام کے بنیادی ڈھانچے اور اصولوں کو متعارف کرائے گا۔
ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپی امیجنگ کے اصول
1. جذب کی تصویر: جب الیکٹران زیادہ بڑے پیمانے پر اور کثافت کے ساتھ نمونے سے ٹکراتے ہیں، تو مرکزی مرحلے کی تشکیل بکھر جاتی ہے۔ جہاں نمونے کی بڑے پیمانے پر موٹائی زیادہ ہوتی ہے، وہاں الیکٹران کا بکھرنے والا زاویہ بڑا ہوتا ہے، اور کم الیکٹران وہاں سے گزرتے ہیں، اس لیے تصویر کی چمک گہری ہوتی ہے۔ ابتدائی ٹرانسمیشن الیکٹران خوردبینیں اس اصول پر مبنی تھیں۔
2. ڈفریکشن امیج: الیکٹران بیم کے نمونے سے مختلف ہونے کے بعد، نمونے کی مختلف پوزیشنوں پر پھیلی ہوئی لہر کی طول و عرض کی تقسیم نمونے میں کرسٹل کے ہر حصے کی مختلف تفاوت کی صلاحیتوں کے مساوی ہے۔ جب کرسٹل کی خرابی واقع ہوتی ہے، تو عیب دار حصے کی تفاوت کی صلاحیت مکمل رقبے سے مختلف ہوتی ہے، اس لیے کرسٹل کے نقائص کی تقسیم کی عکاسی کرتے ہوئے، پھیلی ہوئی لہروں کی طول و عرض کی تقسیم یکساں نہیں ہوتی ہے۔
3. فیز امیج: جب نمونہ 100Å سے پتلا ہوتا ہے، الیکٹران نمونے سے گزر سکتے ہیں، لہر کے طول و عرض کی تبدیلی کو نظر انداز کیا جا سکتا ہے، اور امیجنگ مرحلے کی تبدیلی سے آتی ہے۔
