الیکٹران مائکروسکوپ کا ترقیاتی کورس
الیکٹران خوردبین کی ترکیب
الیکٹران کا ماخذ: یہ ایک کیتھوڈ ہے جو مفت الیکٹران جاری کرتا ہے، اور ایک اینولر انوڈ الیکٹران کو تیز کرتا ہے۔ کیتھوڈ اور اینوڈ کے درمیان وولٹیج کا فرق بہت زیادہ ہونا چاہیے، عام طور پر کئی ہزار وولٹ اور 3 ملین وولٹ کے درمیان۔
الیکٹران: الیکٹران کو فوکس کرنے کے لیے استعمال کیا جاتا ہے۔ عام طور پر، مقناطیسی لینس استعمال کیے جاتے ہیں، اور بعض اوقات الیکٹرو اسٹاٹک لینز استعمال کیے جاتے ہیں۔ الیکٹرانک لینس کا کام وہی ہے جو آپٹیکل مائکروسکوپ میں آپٹیکل لینس کا ہوتا ہے۔ آپٹیکل لینس کا فوکس فکس ہوتا ہے، جبکہ الیکٹرانک لینس کا فوکس ایڈجسٹ کیا جا سکتا ہے، اس لیے الیکٹران مائکروسکوپ میں آپٹیکل مائکروسکوپ کی طرح حرکت پذیر لینس کا نظام نہیں ہوتا ہے۔
ویکیوم ڈیوائس: ویکیوم ڈیوائس کا استعمال خوردبین میں ویکیوم کی حالت کو یقینی بنانے کے لیے کیا جاتا ہے، تاکہ الیکٹران ان کے راستے میں جذب یا انحراف نہ ہوں۔
نمونہ ریک: نمونہ کو نمونے کے ریک پر مستحکم طور پر رکھا جاسکتا ہے۔ اس کے علاوہ، اکثر ایسے آلات ہوتے ہیں جو نمونے کو تبدیل کرنے کے لیے استعمال کیے جا سکتے ہیں (جیسے حرکت کرنا، گھومنا، گرم کرنا، ٹھنڈا کرنا، کھینچنا وغیرہ)۔
ڈیٹیکٹر: ایک سگنل یا ثانوی سگنل جو الیکٹران کو جمع کرنے کے لیے استعمال ہوتا ہے۔ انواع نمونے کی پروجیکشن ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ کے ذریعے براہ راست حاصل کی جا سکتی ہے۔ اس خوردبین میں الیکٹران نمونے سے گزرتے ہیں، اس لیے نمونہ بہت پتلا ہونا چاہیے۔ نمونے کی موٹائی کا تعین ان ایٹموں کے جوہری وزن سے ہوتا ہے جو نمونہ بناتے ہیں، تیز رفتار الیکٹرانوں کی وولٹیج اور مطلوبہ ریزولوشن۔ نمونے کی موٹائی کئی نینو میٹر سے لے کر کئی مائکرون تک ہوسکتی ہے۔ جوہری وزن جتنا زیادہ اور وولٹیج جتنا کم ہوگا، نمونہ اتنا ہی پتلا ہونا چاہیے۔
معروضی لینس کے لینس سسٹم کو تبدیل کرکے، لوگ معروضی لینس کے فوکس کی تصویر کو براہ راست بڑا کر سکتے ہیں۔ اس سے لوگ الیکٹران کے پھیلاؤ کی تصاویر حاصل کر سکتے ہیں۔ اس تصویر کا استعمال کرتے ہوئے، نمونے کے کرسٹل ڈھانچے کا تجزیہ کیا جا سکتا ہے۔
انرجی فلٹرڈ ٹرانسمیشن الیکٹران مائیکروسکوپ (EFTEM) میں، لوگ نمونے سے گزرتے وقت الیکٹران کی رفتار میں تبدیلی کی پیمائش کرتے ہیں۔ اس سے، ہم نمونے کی کیمیائی ساخت کا اندازہ لگا سکتے ہیں، جیسے نمونے میں کیمیائی عناصر کی تقسیم۔
الیکٹران مائکروسکوپ کا ترقیاتی کورس
1931 میں، جرمن M. Noel اور E. ruska نے کولڈ کیتھوڈ ڈسچارج الیکٹران سورس اور تین الیکٹرانک لینز کے ساتھ ایک ہائی وولٹیج آسیلوسکوپ میں ترمیم کی، اور دس گنا سے زیادہ میگنیفیکیشن کے ساتھ ایک تصویر حاصل کی۔ ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ ایجاد کی گئی تھی، جس نے الیکٹران مائکروسکوپ کے ذریعے میگنفائنگ امیجنگ کے امکان کی تصدیق کی تھی۔ 1932 میں، روسکا کی بہتری کے بعد، الیکٹران مائکروسکوپ کی ریزولیوشن 50 نینو میٹر تک پہنچ گئی، جو کہ اس وقت آپٹیکل مائکروسکوپ سے تقریباً دس گنا تھی، آپٹیکل مائکروسکوپ کی ریزولوشن کی حد کو توڑتے ہوئے، اس لیے لوگوں نے الیکٹران مائکروسکوپ پر توجہ دیں۔ 1940 کی دہائی میں، ریاستہائے متحدہ کے ہل نے الیکٹران لینس کی گردشی عدم توازن کو پورا کرنے کے لیے ایک astigmatism آلہ استعمال کیا، جس نے الیکٹران خوردبین کے حل میں ایک نئی پیش رفت کی اور آہستہ آہستہ جدید سطح تک پہنچ گئی۔ چین میں، ایک ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپ 1958 میں 3 nm کی ریزولوشن کے ساتھ کامیابی سے تیار کی گئی تھی، اور 1979 میں 0.3 nm کی ریزولوشن کے ساتھ ایک بڑا الیکٹران مائکروسکوپ بنایا گیا تھا۔
