لیزر کنفوکل مائکروسکوپی اور اسکیننگ الیکٹران مائکروسکوپی کے درمیان فرق
دونوں لیزر کنفوکل مائیکروسکوپس اور SEMs پوائنٹ سورس، پوائنٹ بہ پوائنٹ سکیننگ امیجنگ ہیں جہاں سکیننگ ڈرائیو رینج کو کنٹرول کر کے میگنیفیکیشن کو ایڈجسٹ کیا جاتا ہے۔ ایک لیزر کنفوکل مائکروسکوپ تین جہتی تصاویر حاصل کرنے کے لیے لیزر سے اسکین کرکے کام کرتا ہے۔ سکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ امیجنگ کو ماڈیول کرنے کے لیے مختلف قسم کے جسمانی سگنلز کے نمونے کی سطح کی سکیننگ جوش میں باریک فوکسڈ الیکٹران بیم کا استعمال ہے، صرف دو جہتی تصاویر حاصل کر سکتے ہیں، تین جہتی تصاویر حاصل نہیں کر سکتے۔
1، مختلف محدود ریزولوشن (مختلف سگنل کے ذرائع کو بڑھانا)
لیزر کنفوکل: حتمی ریزولوشن 150nm
سکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ: 20nm ~ 0.8nm
2، مختلف سکیننگ ڈرائیو موڈ
لیزر کنفوکل: لیزر اسکیننگ رینج اور اسکیننگ کی رفتار کو کنٹرول کرنے کے لیے لیزر گھومنے والا آئینہ
سکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ: برقی مقناطیسی کنڈلی کنٹرول الیکٹران بیم سکیننگ رینج اور سکیننگ کی رفتار
3، مختلف سٹیریو امیجنگ
لیزر کنفوکل: نمونہ Z-axis سمت پرت میں پرت امیجنگ کے ذریعے نینو-پریسیژن سٹیپر موٹر کے ذریعے چلایا جاتا ہے، سافٹ ویئر ہر پرت کی تصویر کو ایک واضح 3D سٹیریو امیج کی ترکیب کے لیے سیٹ کرے گا۔
اسکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ: فیلڈ کی ایک بڑی گہرائی کے ساتھ سنگل فریم امیج، جو دو جہتی امیج سے تعلق رکھتی ہے۔
4، مختلف درخواست کی گنجائش
لیزر کنفوکل: کئی بار سے کئی ہزار بار
سکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ: کئی بار ~ سینکڑوں ہزار بار
5، مختلف کام کرنے والے ماحول
لیزر کنفوکال: ماحولیاتی ماحول میں نمونے کی جانچ کر سکتے ہیں۔
سکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ: ہائی ویکیوم ماحول میں نمونے کی جانچ کریں۔
