کیا آپ نے کبھی ملٹی میٹر سے ان سرکٹ مزاحمت کی پیمائش کی ہے؟
لوڈ وولٹیج میں کمی کی پیمائش کے طریقہ کار کو بیان کرنے سے پہلے، یہ ضروری ہے کہ پہلے متناسب طریقہ استعمال کرتے ہوئے مزاحمت کی پیمائش کے اصول کو متعارف کرایا جائے۔ متناسب طریقہ کا استعمال کرتے ہوئے مزاحمت کی پیمائش کا منصوبہ بندی تصویر 1 میں دکھایا گیا ہے۔ تصویر میں تار فریم کے اندر کا حصہ ملٹی میٹر کا اندرونی سرکٹ ہے۔ اعداد و شمار سے، یہ دیکھا جا سکتا ہے کہ ناپے ہوئے ریزسٹر Rx کو ملٹی میٹر کے دونوں سروں سے جوڑنا Rx کو ریفرینس ریزسٹر Ro کے ساتھ سیریز میں جوڑنے اور پھر اسے مربوط بلاک TSC7106 کے V+pin اور COM پن کے درمیان جوڑنے کے مترادف ہے۔ ملٹی میٹر کو ریزسٹنس موڈ میں تبدیل کرنے کے بعد، TSC7106 کا ریفرنس پاور سپلائی Eo ٹیسٹ کرنٹ I کو Ro اور Rx فراہم کرتا ہے، اور Ro پر وولٹیج ڈراپ VRo ٹیسٹ وولٹیج VRX فراہم کرتا ہے، جو مربوط بلاک TSC7106 کے لیے ریفرنس وولٹیج VREF کے طور پر کام کرتا ہے، اور VRX ان پٹ VRX VRX ہے۔ ان پٹ وولٹیج VIN اور حوالہ وولٹیج کے درمیان تعلق ہے: VIN/VRO=VRX/VRO=RX/RO۔ اس مساوات سے، RX=RO/VRO.VRX اور VRX=RX/RO.VRO حاصل کیے گئے ہیں۔ یہ متناسب طریقہ استعمال کرتے ہوئے مزاحمت کی پیمائش کا بنیادی اصول ہے۔ VRX=RX/RO.VRO سے یہ دیکھنا مشکل نہیں ہے کہ ملٹی میٹر کے ایک ہی برقی رکاوٹ پر، اگر ماپی گئی مزاحمت چھوٹی ہے، تو دونوں سروں پر ٹیسٹ وولٹیج بھی چھوٹا ہوگا۔ جب شارٹ سرکٹ ہوتا ہے، یعنی جب ملٹی میٹر "000" اور ناپے ہوئے ریزسٹنس RX=0 کو دکھاتا ہے، ٹیسٹ وولٹیج VRX=0؛ اس کے برعکس، جیسا کہ ناپی گئی مزاحمت RX بڑھتی رہتی ہے، دونوں سروں پر ٹیسٹ وولٹیج VRX بھی بڑھتا جاتا ہے۔ جب ملٹی میٹر "1000" دکھاتا ہے، یعنی RX=RO، ٹیسٹ وولٹیج VRX=VRO۔ جب ناپی گئی مزاحمت RX=2RO تک پہنچ جاتی ہے، جو کہ پوری رینج ہے، تو اوور فلو کی علامت "1" ظاہر ہوتی ہے، اور پیمائش شدہ مزاحمت کے دونوں سروں پر ٹیسٹ وولٹیج VRX VRX=2VRO ہے۔ جب ٹیسٹ شدہ ریزسٹر کو اوپن سرکٹ کیا جاتا ہے، تو اس کا ٹیسٹ وولٹیج تقریباً 0.65V (عام قدر) کی زیادہ سے زیادہ قدر تک پہنچ جاتا ہے۔ DT830A ڈیجیٹل ملٹی میٹر کی ہر ریزسٹنس رینج کے اوپن سرکٹ وولٹیج (نو لوڈ آؤٹ پٹ وولٹیج) تقریباً 0.65V ہونے کی وجہ سے، آن لائن ریزسٹنس کی براہ راست پیمائش کرنا ممکن نہیں ہے، کیونکہ اتنا زیادہ ٹیسٹ وولٹیج ٹیسٹ شدہ سرکٹ میں سلیکون ٹیوب کو آگے بڑھانے کے لیے پیمائش کرنے کے لیے کافی ہوتا ہے (وہاں کی پیمائش کرنے کے لیے) نتائج ماپا مزاحمت اور ٹیسٹ وولٹیج کے درمیان فرق کے قانون کے مطابق، یہ سوچنا مشکل نہیں ہے کہ آن لائن ریزسٹنس کی پیمائش کرنے سے پہلے، ہم سب سے پہلے ڈیجیٹل ملٹی میٹر کے V/Ω اور COM ساکٹ کے درمیان ایک ریزسٹر R1 کو کراس کرتے ہیں، یعنی دو پروبس کے درمیان، یعنی پہلے سے ایک لوڈ ریزسٹر کو منتخب کرتے ہیں، اور ڈیجیٹل ملٹی میٹر کی ملٹی وولٹیج کو کم کرتے ہیں۔ جب تک R1 کی مزاحمتی قدر کو مناسب طریقے سے منتخب کیا جاتا ہے، اس کا زیادہ سے زیادہ ٹیسٹ وولٹیج 0.3V سے نیچے (0.3V سے زیادہ نہیں) تک محدود ہو سکتا ہے۔ ملکی اور بین الاقوامی سطح پر سلکان ٹیوبوں کے وسیع پیمانے پر استعمال کو دیکھتے ہوئے، جرمینیم ٹیوبیں انتہائی نایاب ہیں، اور سلیکون ٹیوبیں اب بھی 0.35V کے وولٹیج پر کٹ آف حالت میں ہیں، ٹیسٹ شدہ سرکٹ پر سلیکون ٹیوبوں کے متوازی اثر کو نظر انداز کیا جا سکتا ہے (سلیکون ٹیوبوں کو اوپن سرکٹ سمجھا جا سکتا ہے)۔ لہذا، یہ طریقہ ٹرانزسٹروں کی آن لائن مزاحمت کی پیمائش کے لیے استعمال کیا جا سکتا ہے، جسے لوڈ وولٹیج میں کمی کی پیمائش کا طریقہ کہا جاتا ہے۔ اس طریقہ کو استعمال کرتے ہوئے آن لائن مزاحمت کی پیمائش کرتے وقت، ہر مزاحمتی حد کے زیادہ سے زیادہ ٹیسٹ وولٹیج اور 0.35V کی اوپری حد کے درمیان ایک خاص مارجن ہونا چاہیے۔ عام طور پر، زیادہ سے زیادہ ٹیسٹ وولٹیج کو 0.3V سے کم یا اس کے برابر سمجھا جاتا ہے۔ لوڈ وولٹیج میں کمی کی پیمائش کا طریقہ استعمال کرتے ہوئے آن لائن مزاحمت کی پیمائش کے لیے سرکٹ کنکشن تصویر 2 میں دکھایا گیا ہے۔
فرض کریں کہ ماپا آن لائن ریزسٹنس RX ہے، ڈیجیٹل ملٹی میٹر کی ڈسپلے ویلیو R ہے، اور بھری ہوئی ریزسٹنس R1 ہے (ماپا گئی قدر لیں)۔ ظاہر ہے، R، RX، اور R1 کے درمیان تعلق R=R1 ہے۔ RX/(R1+RX)، لہٰذا پیمائش شدہ آن لائن مزاحمت RX=R1۔ اس مساوات سے R/(R1-R) کا حساب لگایا جا سکتا ہے۔ لیکن ہر مزاحمتی رینج میں لوڈنگ ریزسٹر R1 کے لیے مناسب مزاحمتی قدر کیا ہے؟ مصنف نے R1 کے لیے مناسب مزاحمتی قدر منتخب کرنے کے لیے شکل 3 میں دکھائے گئے سرکٹ کا استعمال کرتے ہوئے تجربات کیے ہیں۔ کنکشن تصویر 3 میں دکھایا گیا ہے، اور تجرباتی ڈیٹا منسلک جدول میں درج ہے۔ مینوفیکچرر کے ذریعہ فراہم کردہ DT830A ڈیجیٹل ملٹی میٹر کے ہر مزاحمتی رینج کا اوپن سرکٹ وولٹیج 0.65V یا 0.7V سے کم ہے۔
