اہلیت کی پیمائش کرنے کے لئے ملٹی میٹر کی مزاحمتی حد کو کس طرح استعمال کریں
پریکٹس نے یہ ثابت کیا ہے کہ کیپسیٹرز کے چارجنگ عمل کو ڈیجیٹل ملٹی میٹر کا استعمال کرتے ہوئے بھی دیکھا جاسکتا ہے ، جو حقیقت میں مجرد ڈیجیٹل مقدار میں وولٹیج کو چارج کرنے میں ہونے والی تبدیلیوں کی عکاسی کرتا ہے۔ اگر ڈیجیٹل ملٹی میٹر کی پیمائش کی شرح فی سیکنڈ میں n اوقات ہوتی ہے ، تو ایک سندارتر کے چارجنگ کے مشاہدے کے عمل کے دوران ، N آزاد اور ترتیب سے بڑھتی ہوئی پڑھنے کو ہر سیکنڈ میں دیکھا جاسکتا ہے۔ ڈیجیٹل ملٹی میٹر کی ڈسپلے کی خصوصیت کی بنیاد پر ، کیپسیٹرز کے معیار کا پتہ لگانا اور ان کی اہلیت کے سائز کا اندازہ لگانا ممکن ہے۔ مزاحمت کی حد میں کیپسیٹرز کا پتہ لگانے کے لئے ڈیجیٹل ملٹی میٹر کے استعمال کا ایک طریقہ ذیل میں ہے ، جو ان آلات کے لئے عملی قدر کی حامل ہے جس نے اہلیت کی حد مقرر نہیں کی ہے۔ یہ طریقہ 0 سے لے کر 1 μ F سے لے کر کئی ہزار مائکروفراڈس تک کی بڑی صلاحیت کیپسیٹرز کی پیمائش کے ل suitable موزوں ہے۔
ڈیجیٹل ملٹی میٹر کو مناسب مزاحمت کی حد میں سیٹ کریں ، جس میں بالترتیب سرخ اور سیاہ تحقیقات آزمائشی کیپسیٹر سی ایکس کے دو کھمبوں کو چھو رہی ہیں۔ اس مقام پر ، ظاہر کردہ قیمت آہستہ آہستہ "000" سے بڑھے گی جب تک کہ اوور فلو علامت "1" ظاہر نہ ہوجائے۔ اگر "000" مستقل طور پر ظاہر ہوتا ہے تو ، یہ کیپسیٹر میں اندرونی شارٹ سرکٹ کی نشاندہی کرتا ہے۔ اگر اوور فلو مستقل طور پر ظاہر ہوتا ہے تو ، اس کی وجہ کیپسیٹر کے اندرونی کھمبوں کے درمیان کھلی سرکٹ کی وجہ سے ہوسکتا ہے ، یا یہ منتخب کردہ نامناسب مزاحمت کی سطح کی وجہ سے ہوسکتا ہے۔ الیکٹرولائٹک کیپسیٹرز کی جانچ پڑتال کرتے وقت ، یہ نوٹ کرنا ضروری ہے کہ سرخ تحقیقات (مثبت طور پر چارج کی گئی) کیپسیٹر کے مثبت ٹرمینل سے منسلک ہونا چاہئے ، اور سیاہ تحقیقات کو کیپسیٹر کے منفی ٹرمینل سے جوڑنا چاہئے۔
2. اہلیت کی حد کا استعمال کرتے ہوئے ملٹی میٹر کے ساتھ اہلیت کی پیمائش کرنے کا طریقہ
کچھ ڈیجیٹل ملٹی میٹرز کی پیمائش کی گنجائش کا کام ہوتا ہے ، اور ان کی حدود کو پانچ سطحوں میں تقسیم کیا جاتا ہے: 2 000 p ، 20n ، 200n ، 2 μ ، اور 20 μ۔ جب پیمائش کرتے ہو تو ، خارج ہونے والے کیپسیٹر کے دو پنوں کو براہ راست میٹر بورڈ پر سی ایکس ساکٹ میں داخل کیا جاسکتا ہے ، اور مناسب حد کے انتخاب کے بعد ڈسپلے ڈیٹا کو پڑھا جاسکتا ہے۔ 000p رینج ، 2000pf سے کم کیپسیٹرز کی پیمائش کے لئے موزوں ہے۔ 20 این رینج ، 2000pf اور 20nf کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لئے موزوں ہے۔ 200n کی حد ، 20NF اور 200NF کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لئے موزوں ہے۔ 2 μ سطح ، 200NF اور 2 μ F کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لئے موزوں ہے۔ 20 μ F 2 μ F اور 20 μ F کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لئے موزوں ہے۔
تجربے سے یہ ظاہر ہوا ہے کہ ڈیجیٹل ملٹی میٹر کے کچھ ماڈلز (جیسے DT890B+) میں 50pf سے نیچے چھوٹی صلاحیت کیپسیٹرز کی پیمائش کرتے وقت نمایاں غلطیاں ہوتی ہیں ، اور 20PF سے نیچے کیپسیٹرز کی پیمائش کرنے میں کوئی حوالہ قیمت نہیں ہوتی ہے۔ اس مقام پر ، سیریز کا طریقہ چھوٹی گنجائش والی اقدار کی پیمائش کے لئے استعمال کیا جاسکتا ہے۔ اس کا طریقہ یہ ہے کہ پہلے تقریبا 220PF کی گنجائش والا ایک کیپسیٹر تلاش کریں ، اس کی اصل صلاحیت C1 کو ڈیجیٹل ملٹی میٹر کے ساتھ پیمائش کریں ، اور پھر اس کی کل گنجائش C2 کی پیمائش کرنے کے لئے اس کے ساتھ تجربہ کرنے کے لئے چھوٹے کیپسیٹر کو یکجا کریں۔ دونوں کے درمیان فرق (C 1- C2) چھوٹے کیپسیٹر کی جانچ کرنے کی صلاحیت ہے۔ یہ طریقہ 1-20 PF کی چھوٹی گنجائش کی پیمائش کے لئے بہت درست ہے۔
