ملٹی میٹر کا استعمال کرتے ہوئے اہلیت کی جانچ کے طریقوں کا تعارف
1. کیپیسیٹینس موڈ کا استعمال کرتے ہوئے براہ راست پیمائش کریں۔
کچھ ڈیجیٹل ملٹی میٹرز کیپیسیٹینس کی پیمائش کا کام ہوتا ہے، اور ان کی رینجز کو پانچ درجوں میں تقسیم کیا جاتا ہے: 2000p، 20n، 200n، 2 μ، اور 20 μ۔ پیمائش کرتے وقت، ڈسچارجڈ کیپسیٹر کے دو پنوں کو میٹر بورڈ پر سی ایکس ساکٹ میں براہ راست داخل کیا جا سکتا ہے، اور ڈسپلے ڈیٹا کو مناسب رینج. 000پی رینج منتخب کرنے کے بعد پڑھا جا سکتا ہے، جو 2000pF سے کم کیپسیٹرز کی پیمائش کے لیے موزوں ہے؛ 20n رینج، 2000pF اور 20nF کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لیے موزوں؛ 200n رینج، 20nF اور 200nF کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لیے موزوں؛ 2 μ سطح، 200nF اور 2 μF کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لیے موزوں؛ 20 μF 2 μF اور 20 μF کے درمیان اہلیت کی پیمائش کے لیے موزوں ہے۔
تجربے سے معلوم ہوا ہے کہ ڈیجیٹل ملٹی میٹرز کے کچھ ماڈلز (جیسے DT890B+) میں 50pF سے کم صلاحیت والے کیپسیٹرز کی پیمائش کرتے وقت اہم غلطیاں ہوتی ہیں، اور 20pF سے نیچے کیپسیٹرز کی پیمائش کرنے میں تقریباً کوئی حوالہ قیمت نہیں ہوتی ہے۔ اس مقام پر، سیریز کا طریقہ چھوٹی اہلیت کی قدروں کی پیمائش کے لیے استعمال کیا جا سکتا ہے۔ طریقہ یہ ہے کہ پہلے تقریباً 220pF کی گنجائش والا کپیسیٹر تلاش کریں، اس کی اصل صلاحیت C1 کو ڈیجیٹل ملٹی میٹر سے ناپیں، اور پھر چھوٹے کیپسیٹر کو اس کے ساتھ ملا کر اس کی کل صلاحیت C2 کی پیمائش کریں۔ دونوں کے درمیان فرق (C1-C2) چھوٹے کیپسیٹر کی جانچ کرنے کی صلاحیت ہے۔ یہ طریقہ 1-20pF کی چھوٹی گنجائش کی پیمائش کے لیے بہت درست ہے۔
2. مزاحمتی موڈ کے ساتھ پیمائش کریں۔
پریکٹس نے ثابت کیا ہے کہ ڈیجیٹل ملٹی میٹر کا استعمال کرتے ہوئے کیپسیٹرز کے چارج کرنے کے عمل کو بھی دیکھا جا سکتا ہے، جو دراصل مجرد ڈیجیٹل مقداروں میں چارجنگ وولٹیج میں ہونے والی تبدیلیوں کی عکاسی کرتا ہے۔ اگر ڈیجیٹل ملٹی میٹر کی پیمائش کی شرح n بار فی سیکنڈ ہے، تو ایک کپیسیٹر کی چارجنگ کے مشاہدے کے عمل کے دوران، ہر سیکنڈ میں n آزاد اور ترتیب وار بڑھتی ہوئی ریڈنگ دیکھی جا سکتی ہے۔ ڈیجیٹل ملٹی میٹر کے ڈسپلے فیچر کی بنیاد پر، کیپسیٹرز کے معیار کا پتہ لگانا اور ان کی گنجائش کے سائز کا اندازہ لگانا ممکن ہے۔ ریزسٹنس رینج میں کیپسیٹرز کا پتہ لگانے کے لیے ڈیجیٹل ملٹی میٹر استعمال کرنے کا طریقہ درج ذیل ہے، جو ان آلات کے لیے عملی اہمیت کا حامل ہے جنہوں نے گنجائش کی حد متعین نہیں کی ہے۔ یہ طریقہ 0.1 μF سے لے کر کئی ہزار مائکروفراڈز تک کی بڑی صلاحیت والے کیپسیٹرز کی پیمائش کے لیے موزوں ہے۔
ڈیجیٹل ملٹی میٹر کو مناسب مزاحمتی رینج پر سیٹ کریں، سرخ اور سیاہ پروب کے ساتھ بالترتیب ٹیسٹ شدہ کپیسیٹر Cx کے دو کھمبوں کو چھوتے ہیں۔ اس مقام پر، ظاہر شدہ قدر آہستہ آہستہ "000" سے بڑھے گی جب تک کہ اوور فلو علامت "1" ظاہر نہ ہو۔ اگر "000" مسلسل ظاہر ہوتا ہے، تو یہ کیپسیٹر میں اندرونی شارٹ سرکٹ کی نشاندہی کرتا ہے۔ اگر اوور فلو مستقل طور پر ظاہر ہوتا ہے، تو یہ کیپسیٹر کے اندرونی کھمبوں کے درمیان کھلے سرکٹ کی وجہ سے ہو سکتا ہے، یا یہ مزاحمت کی نامناسب سطح منتخب ہونے کی وجہ سے ہو سکتا ہے۔ الیکٹرولائٹک کیپسیٹرز کو چیک کرتے وقت، یہ نوٹ کرنا ضروری ہے کہ ریڈ پروب (مثبت چارج شدہ) کو کپیسیٹر کے مثبت ٹرمینل سے منسلک کیا جانا چاہیے، اور بلیک پروب کو کپیسیٹر کے منفی ٹرمینل سے منسلک ہونا چاہیے۔
3. وولٹیج کی حد کے ساتھ پیمائش کریں۔
وولٹیج کی حد کے ساتھ پیمائش دراصل ایک بالواسطہ پیمائش کا طریقہ ہے، جو پیمائش کا سب سے درست طریقہ ہے۔ ملٹی میٹر کو ڈی سی کرنٹ موڈ پر سیٹ کریں، سرخ اور سیاہ پروبس کو کپیسیٹر سے جوڑیں، کپیسیٹر کو چارج کریں، اور فارمولے کا استعمال کرتے ہوئے کیپیسیٹینس کا حساب لگائیں۔ ملٹی میٹر سے اہلیت کی پیمائش کرنے کے بہت سے طریقے ہیں۔ پیمائش کا اصول یہ ہے کہ ملٹی میٹر پر ریڈنگ میں تبدیلی کو استعمال کیا جائے کیونکہ چارجنگ کے عمل کے دوران چارج ہونے والی بجلی کی مقدار بڑھ جاتی ہے، اور کرنٹ اس سے گزرتا ہے، تاکہ گنجائش کے سائز کی پیمائش کی جا سکے۔ ملٹی میٹر ایک درست آلہ ہے، لیکن اسے استعمال کرتے وقت کچھ احتیاطی تدابیر بھی اختیار کی جاتی ہیں، جیسے کہ سرخ اور سیاہ پروب کے کنکشن میں غلطیاں نہ کریں، اور آلہ کو نقصان سے بچنے کے لیے پاور وولٹیج کی حد کو تبدیل نہ کریں۔
