ملٹی میٹر کا پتہ لگانے کے طریقوں کا تعارف
1۔ آن سرکٹ ڈی سی مزاحمت کا پتہ لگانے کا طریقہ
یہ ایک ملٹی میٹر کے اوہم بلاک کا استعمال کرتے ہوئے سرکٹ بورڈ پر آئی سی اور پیریفرل اجزاء کے ہر پن کی فارورڈ اور ریورس ڈی سی مزاحمتی قدروں کی براہ راست پیمائش کرنے اور غلطی کو تلاش کرنے اور اس کا تعین کرنے کے لیے عام ڈیٹا سے موازنہ کرنے کا طریقہ ہے۔ پیمائش کرتے وقت درج ذیل تین نکات پر توجہ دیں:
(1) پیمائش کرنے سے پہلے بجلی کی فراہمی منقطع کر دیں تاکہ جانچ کے دوران میٹر اور اجزاء کو نقصان نہ پہنچے۔
(2) ملٹی میٹر کے برقی رکاوٹ کا اندرونی وولٹیج 6V سے زیادہ نہیں ہونا چاہیے۔ پیمائش کی حد کے لیے R×100 یا R×1k رینج استعمال کرنا بہتر ہے۔
(3) IC پن کے پیرامیٹرز کی پیمائش کرتے وقت، پیمائش کی شرائط پر توجہ دیں، جیسے کہ ٹیسٹ کے تحت ماڈل، IC سے متعلق پوٹینشیومیٹر کے سلائیڈنگ بازو کی پوزیشن وغیرہ، اور پیریفرل سرکٹ کے اجزاء کے معیار پر بھی غور کریں۔ .
2۔ ڈی سی آپریٹنگ وولٹیج کی پیمائش کا طریقہ
یہ DC پاور سپلائی وولٹیج کی پیمائش کرنے کا ایک طریقہ ہے اور بجلی کے آن ہونے پر ملٹی میٹر DC وولٹیج بلاک کے ساتھ پیریفرل اجزاء کے کام کرنے والے وولٹیج کو۔ IC کے ہر پن کی DC وولٹیج کی قدر کو زمین پر معلوم کرنا، اور اس کا عام قدر سے موازنہ کرنا، اس طرح غلطی کی حد کو سکیڑنا۔ تباہ شدہ جزو تلاش کریں۔ پیمائش کرتے وقت درج ذیل آٹھ نکات پر توجہ دیں:
(1) ملٹی میٹر میں کافی بڑی اندرونی مزاحمت ہونی چاہیے، ناپے جانے والے سرکٹ کی مزاحمت سے کم از کم 10 گنا زیادہ، تاکہ پیمائش کی بڑی غلطیوں سے بچا جا سکے۔
2) عام طور پر، ہر پوٹینشیومیٹر کو درمیانی پوزیشن کی طرف موڑ دیں۔ اگر یہ ٹی وی ہے تو، سگنل کے ذریعہ کو معیاری رنگ بار سگنل جنریٹر استعمال کرنا چاہیے۔
(3) ٹیسٹ لیڈز یا تحقیقات کے لیے پرچی مخالف اقدامات کیے جائیں۔ کوئی بھی فوری شارٹ سرکٹ آسانی سے آئی سی کو نقصان پہنچا سکتا ہے۔ ٹیسٹ پین کو پھسلنے سے روکنے کے لیے درج ذیل طریقہ استعمال کیا جا سکتا ہے: بائیسکل والو کور کا ایک ٹکڑا لیں اور اسے ٹیسٹ پین کی نوک پر رکھیں، اور ٹیسٹ پین کی نوک کو تقریباً 0.5 ملی میٹر تک بڑھا دیں۔ یہ نہ صرف ٹیسٹ پین کی نوک کو ٹیسٹ شدہ پوائنٹ کے ساتھ اچھی طرح سے رابطے میں رکھ سکتا ہے، بلکہ مؤثر طریقے سے پھسلنے سے بھی روک سکتا ہے۔ ، کوئی شارٹ سرکٹ نہیں ہوگا چاہے یہ ملحقہ پوائنٹس سے ٹکرائے۔
(4) جب کسی مخصوص پن کا ماپا ہوا وولٹیج عام قدر سے مماثل نہیں ہوتا ہے، تو IC کے معیار کو یہ تجزیہ کرکے جانچنا چاہیے کہ آیا پن وولٹیج کا IC کے نارمل آپریشن اور وولٹیج میں متعلقہ تبدیلیوں پر کوئی اہم اثر پڑتا ہے یا نہیں۔ دوسرے پنوں کی.
(5) آئی سی پن وولٹیج پردیی اجزاء سے متاثر ہوگا۔ جب پیریفیرل پرزے لیک ہوتے ہیں، شارٹ سرکٹ، اوپن سرکٹ یا قدر میں تبدیلی، یا پیریفرل سرکٹ متغیر مزاحمت کے ساتھ پوٹینومیٹر سے منسلک ہوتا ہے، تو پوٹینومیٹر کے سلائیڈنگ بازو کی مختلف پوزیشنوں کی وجہ سے پن وولٹیج بدل جائے گا۔
(6) اگر IC کے ہر پن کا وولٹیج نارمل ہے تو IC کو عام طور پر نارمل سمجھا جاتا ہے۔ اگر IC کے کچھ پنوں کا وولٹیج غیر معمولی ہے، تو آپ کو اس نقطہ سے شروع کرنا چاہیے جو عام قدر سے سب سے زیادہ انحراف کرتا ہے اور چیک کریں کہ آیا پردیی اجزاء ناقص ہیں۔ اگر کوئی غلطی نہیں ہے تو، آئی سی کو نقصان پہنچانے کا امکان ہے. .
(7) متحرک وصول کرنے والے آلات کے لیے، جیسے کہ ٹیلی ویژن، سگنل ہونے یا نہ ہونے پر IC کے ہر پن کے وولٹیج مختلف ہوتے ہیں۔ اگر یہ پایا جاتا ہے کہ پن وولٹیج تبدیل نہیں ہونا چاہئے لیکن بہت زیادہ تبدیل ہوتا ہے، اور پن وولٹیج جو سگنل کے سائز کے ساتھ تبدیل ہونا چاہئے اور ایڈجسٹ ہونے والے اجزاء کی پوزیشن تبدیل نہیں ہوتی ہے، تو یہ تعین کیا جا سکتا ہے کہ آئی سی کو نقصان پہنچا ہے۔
(8) ایک سے زیادہ کام کرنے کے طریقوں کے ساتھ آلات کے لیے، جیسے کہ ویڈیو ریکارڈرز، IC کے ہر پن کے وولٹیج بھی مختلف کام کرنے کے طریقوں میں مختلف ہوتے ہیں۔
3۔ AC ورکنگ وولٹیج کی پیمائش کا طریقہ
IC AC سگنل میں تبدیلیوں کو سمجھنے کے لیے، آپ IC کے AC آپریٹنگ وولٹیج کی تقریباً پیمائش کرنے کے لیے dB جیک کے ساتھ ملٹی میٹر کا استعمال کر سکتے ہیں۔ جانچ کرتے وقت، ملٹی میٹر کو AC وولٹیج کی ترتیب میں رکھیں اور مثبت ٹیسٹ لیڈ کو dB جیک میں داخل کریں۔ ڈی بی جیک کے بغیر ملٹی میٹر کے لیے، ایک {{0}}.1~0.5μF DC بلاک کرنے والے کیپسیٹر کو سیریز میں مثبت ٹیسٹ لیڈ سے منسلک کرنے کی ضرورت ہے۔ یہ طریقہ نسبتاً کم آپریٹنگ فریکوئنسی والے آئی سی کے لیے موزوں ہے، جیسے کہ ٹی وی ویڈیو ایمپلیفیکیشن سٹیجز اور فیلڈ سکیننگ سرکٹس۔ چونکہ ان سرکٹس میں مختلف قدرتی تعدد اور مختلف ویوفارمز ہیں، اس لیے ماپا ڈیٹا تخمینی ہے اور صرف حوالہ کے لیے استعمال کیا جا سکتا ہے۔
4. کل موجودہ پیمائش کا طریقہ
یہ طریقہ IC پاور سپلائی لائن کے کل کرنٹ کا پتہ لگا کر IC کے معیار کا فیصلہ کرنے کا ایک طریقہ ہے۔ چونکہ IC کے زیادہ تر اندرونی حصے براہ راست جوڑے جاتے ہیں، جب IC کو نقصان پہنچتا ہے (جیسے کہ کسی مخصوص PN جنکشن کا بریک ڈاؤن یا کھلا سرکٹ)، یہ بعد کے مرحلے کی سنترپتی اور کٹ آف کا سبب بنے گا، جس سے کل کرنٹ تبدیل ہو جائے گا۔ . لہذا، کل کرنٹ کی پیمائش کرکے آئی سی کے معیار کا اندازہ لگایا جاسکتا ہے۔ آپ پاور پاتھ میں ریزسٹر کے پار وولٹیج ڈراپ کی پیمائش بھی کر سکتے ہیں اور کل کرنٹ ویلیو کا حساب لگانے کے لیے اوہم کا قانون استعمال کر سکتے ہیں۔
