نمی کے تعین کے لیے پیمائش کی دو مختلف تکنیکوں کے اصول
نمی کی مختلف پیمائشوں کو بیان کرنے سے پہلے، نمی کے مواد کی وضاحت کرنا ضروری ہے۔ نمی کا مواد عام طور پر کل پروڈکٹ (گیلی بنیاد) یا خشک مصنوعات (خشک بنیاد) کے وزن کے لحاظ سے فیصد کے طور پر ظاہر کیا جاتا ہے۔
گیلے کی بنیاد پر نمی کا مواد: M=100 x (گیلا وزن - خشک وزن) / گیلا وزن
خشک بنیاد پر نمی کا مواد: M=100 x (گیلا وزن - خشک وزن) / خشک وزن
مندرجہ بالا فارمولے کے مطابق، گیلے بیس کی نمی کا مواد 100 فیصد سے زیادہ نہیں ہو سکتا۔ خشکی کی بنیاد پر نمی 100 فیصد سے زیادہ ہو سکتی ہے اور یہ ایک غیر خطی فعل ہے۔ نمی کی مقدار کا تعین کئی تکنیکوں سے کیا جا سکتا ہے۔ ان کو دو اہم زمروں میں تقسیم کیا جا سکتا ہے، پرائمری اور سیکنڈری میٹرکس۔
I. ریڈیو فریکوئنسی ڈائی الیکٹرک تکنیک
یہ طریقہ زیادہ تر ٹھوس چیزوں کے مقابلے پانی کے اعلی ڈائی الیکٹرک مستقل پر انحصار کرتا ہے۔
ڈائی الیکٹرک کا تعین کرنے کے لیے متعدد تکنیکیں تیار کی گئی ہیں، بشمول RF، مائکروویو اور ٹائم ڈومین ریفلوکومیٹری۔ کسی مواد کے متعلقہ ڈائی الیکٹرک مستقل کی پیمائش کرنے کے لیے، مواد کو برقی طور پر سینسنگ سرکٹ سے جوڑا جانا ضروری ہے۔ یہ مواد کو دو متوازی الیکٹروڈ کے درمیان رکھ کر کیا جا سکتا ہے، لیکن یہ آن لائن ایپلی کیشنز کو سہولت نہیں دیتا ہے۔ اگر سینسنگ سرکٹ RF پر کام کرتا ہے، تو مواد کے ذریعے RF انرجی کو پھیلانا آسان ہے اور اس طرح بغیر کسی جسمانی رابطے کے پروڈکٹ کو جوڑنا۔ پلانر فرینج فیلڈ الیکٹروڈ عمل پر کم اثر کے ساتھ یکطرفہ پیمائش کا ڈھانچہ فراہم کرتے ہیں۔
ٹھوس مصنوع کا برقی اینالاگ رساو چالکتا کے متوازی ایک کپیسیٹر ہے۔ یہ اجزاء نمی سے متاثر ہوتے ہیں، لیکن ڈائی الیکٹرک کنسٹنٹ بہت متوقع ہے جبکہ نقصان کا عنصر نہیں ہے۔ مشترکہ اجزاء ایک پیچیدہ رکاوٹ کی نمائندگی کرتے ہیں جسے آسانی سے ماپا جا سکتا ہے، لیکن یہ نمی کے علاوہ دیگر متغیرات سے متاثر ہو سکتا ہے۔
حقیقی ڈائی الیکٹرک نمی میٹر نایاب ہیں کیونکہ زیادہ تر کم لاگت والے آلات ڈائی الیکٹرک اور نقصان کے اجزاء کو الگ کرنے کی کوئی کوشش نہیں کرتے ہیں۔ سب سے کم لاگت والے آلات کسی بھی طویل مدتی استحکام اور تکرار کے ساتھ مشترکہ رکاوٹ کی پیمائش کرنے کی بہت کم یا کوئی کوشش نہیں کرتے ہیں۔
یہ ایک گھسنے والی پیمائش ہے اور غیر یکساں مصنوعات کی پیمائش کر سکتی ہے۔
اس میں پیمائش کا ایک بڑا علاقہ ہے جو مصنوعات کے لیے زیادہ نمائندہ مجموعی اوسط نمی فراہم کرتا ہے۔
یہ دیگر ان لائن ٹیکنالوجیز کے مقابلے نسبتاً سستا ہے۔
یہ بہت قابل اعتماد اور مضبوط ہے جس میں کوئی حرکت پذیر پرزہ پہننے یا ٹوٹنے کے لیے نہیں ہے۔
مختلف قسم کے مکینیکل سینسرز عمل کے حالات کی ایک وسیع رینج کے مطابق بنائے گئے ہیں اور اعلی درجہ حرارت والے ماحول میں استعمال کیے جا سکتے ہیں۔
II انفراریڈ ٹیکنالوجی
Near Infrared Reflectance (NIR یا IR) ٹیکنالوجی آن لائن نمی کی جانچ کے لیے وسیع پیمانے پر استعمال ہونے والی ٹیکنالوجی ہے۔ اس کی زیادہ تر مقبولیت اس کے استعمال میں آسانی کی وجہ سے ہے۔
روشنی کا منبع (عام طور پر ایک کوارٹج ہالوجن بلب) کو ایک مخصوص طول موج میں جمع اور فلٹر کیا جاتا ہے۔ گھومنے والے پہیے پر نصب ایک فلٹر روشنی کو ایک مخصوص طول موج کی دالوں کی ایک سیریز میں کاٹتا ہے۔ فلٹر شدہ لائٹ بیم کو ماپا جانے کے لیے پروڈکٹ کی سطح پر لے جایا جاتا ہے۔ روشنی کا ایک حصہ واپس پکڑنے والے (عام طور پر لیڈ سلفائیڈ) کی طرف منعکس ہوتا ہے۔ روشنی کی ایک مخصوص طول موج پانی سے جذب ہوتی ہے۔ اگر فلٹر کو اس طرح منتخب کیا جاتا ہے کہ ایک طول موج پانی (نمونہ بیم) سے جذب ہوجائے اور ایک طول موج پانی (ریفرنس بیم) سے متاثر نہ ہو، تو دو منعکس طول موجوں کا طول و عرض تناسب کی مقدار کے متناسب ہوگا۔ پانی میں پانی.
لاگو کرنا آسان ہے۔ عام طور پر پروڈکٹ کے اوپر 6 سے 10 انچ نصب ہوتے ہیں۔ اعتدال پسند مصنوعات کی اونچائی کی مختلف حالتوں کا پیمائش پر بہت کم یا کوئی اثر نہیں ہوتا ہے۔
اسکیننگ فریم کے ساتھ مل کر جگہ کی پیمائش کا ایک چھوٹا سا علاقہ پروڈکٹ پروفائل فراہم کرتا ہے۔
نمی کے علاوہ دیگر متغیرات کی پیمائش کے لیے مخصوص طول موج کا انتخاب کیا جا سکتا ہے۔
