جوہری قوت خوردبین کیا ہے؟
اٹامک فورس مائیکروسکوپی: ایک نئی تجرباتی تکنیک جو ایٹموں اور مالیکیولز کے درمیان تعامل کی قوتوں کو استعمال کرتی ہے تاکہ کسی شے کی سطح پر خوردبینی خصوصیات کا مشاہدہ کیا جا سکے۔ یہ ایک نینو میٹر کے سائز کی تحقیقات پر مشتمل ہے جو حساس طریقے سے جوڑ توڑ کے ساتھ مائکرون سائز کے لچکدار کینٹیلیور کے ساتھ لگایا گیا ہے۔ جب تحقیقات نمونے کے بہت قریب ہوتی ہے، تو اس کی نوک پر موجود ایٹموں اور نمونے کی سطح پر موجود ایٹموں کے درمیان قوتیں کینٹیلیور کو اپنی اصل پوزیشن سے دور کرنے کا سبب بنتی ہیں۔ ایک سہ جہتی تصویر کو جانچ کے انحراف کی مقدار یا کمپن کی فریکوئنسی سے دوبارہ تشکیل دیا جاتا ہے کیونکہ یہ نمونے کو اسکین کرتا ہے۔ بالواسطہ طور پر نمونے کی سطح کی ٹپوگرافی یا جوہری ساخت حاصل کرنا ممکن ہے۔
اس کا استعمال مادوں کی سطح کی ساخت اور خصوصیات کا مطالعہ کرنے کے لیے کیا جاتا ہے جس کی پیمائش کی جانے والی نمونے کی سطح اور ایک چھوٹے قوت کے لیے حساس عنصر کے درمیان انتہائی کمزور انٹرااٹومک تعامل کی قوتوں کا پتہ لگایا جاتا ہے۔ مائیکرو کینٹیلیور کا ایک جوڑا، جو کمزور قوتوں کے لیے انتہائی حساس ہوتا ہے، ایک سرے پر لگایا جاتا ہے، اور دوسرے سرے پر ایک چھوٹی سی نوک کو نمونے کے قریب لایا جاتا ہے، جو پھر اس کے ساتھ تعامل کرتا ہے، اور قوتیں مائیکرو کینٹیلیور کا سبب بنتی ہیں۔ ان کی حرکت کی حالت کو درست کرنا یا تبدیل کرنا۔
نمونے کو اسکین کرتے وقت، سینسر ان تبدیلیوں کا پتہ لگاتا ہے اور قوتوں کی تقسیم کے بارے میں معلومات حاصل کرتا ہے، اس طرح نانوسکل ریزولوشن کے ساتھ سطح کی ساخت کے بارے میں معلومات حاصل کرتا ہے۔ اس میں سوئی کی نوک کے ساتھ ایک مائیکرو کینٹیلیور، ایک مائیکرو کینٹیلیور موشن کا پتہ لگانے والا آلہ، اس کی حرکت کی نگرانی کے لیے ایک فیڈ بیک لوپ، نمونے کو اسکین کرنے کے لیے ایک پیزو الیکٹرک سیرامک اسکیننگ ڈیوائس، اور کمپیوٹر کے زیر کنٹرول امیج کا حصول، ڈسپلے اور پروسیسنگ سسٹم ہوتا ہے۔ مائیکرو کنٹیلیور موشن کا پتہ برقی طریقوں سے لگایا جا سکتا ہے جیسے کہ ٹنل کرنٹ کا پتہ لگانے یا آپٹیکل طریقوں جیسے کہ بیم ڈیفلیکشن اور انٹرفیومیٹری وغیرہ۔ جب سوئی کی نوک اور نمونہ کافی حد تک ایک دوسرے کے قریب ہوں اور ان کے درمیان ایک مختصر فاصلہ کی باہمی پسپائی ہو۔ ان میں، تصویر کی ریزولوشن کی ایٹم لیول کی سطح کو حاصل کرنے کے لیے ریپلشن کا پتہ لگایا جا سکتا ہے، اور عام طور پر نینو میٹر کی سطح کی ریزولیوشن۔ نمونوں کی AFM پیمائش کی کوئی خاص ضرورت نہیں ہے، اور اسے ٹھوس کی سطح کی پیمائش کے لیے استعمال کیا جا سکتا ہے۔ اور جذب کے نظام.
